Microscope à Force Photo-induite (PiFM)

Une nouvelle acquisition

Le professeur Mohamed Siaj du Département de Chimie de l’UQAM et le centre de recherche NanoQAM, viennent de rendre accessible aux différents acteurs académiques et industriels dans les domaines des nanotechnologies un microscope à Force Photo-Induite unique au Québec. Ce microscope permet de faire simultanément des mesures topographiques (AFM) et spectroscopiques (PiFM).

Propriétés de l’instrument

Ce microscope à force photo-induite (PiFM) est in instrument qui permet d’obtenir des images topographiques (resolution 40nm) et spectroscopiques (IR entre 770 et 1910 cm-1 avec une résolution de 5nm). La technique PiFM utilise un champ, au sommet d’une pointe, pour induire localement une polarisation dans l’échantillon, qui à son tour produit une force supplémentaire agissant sur la pointe. Cette force photo-induite peut être extraite des propriétés d’oscillation du cantilever, et permettre ainsi d’obtenir des images de forces photo-induites IR.

Futures utilisations

Toutes personnes intéressées par l’utilisation de cet instrument PiFM ou intéressé à être formé sur cet instrument pour une utilisation autonome, doit impérativement contacter au préalable M. Maziar Jarari.